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K-Alpha X 射线光电子能谱仪
Thermo Scientific K-Alpha X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统为表面分析带来了一种新方法。K-Alpha XPS 系统专注于使用简化的工作流程提供高质量的结果，使 XPS 操作简单直观，而不会牺牲性能或功能。
最先进的性能、更低的价格、更容易的使用性和较大的样品测试量使 K-Alpha XPS 系统成为多用户环境的理想选择。K-Alpha XPS 系统使世界各地的研究人员能够进行表面分析。
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网络讲座：Thermo Scientific K-Alpha XPS 系统
K-Alpha X 射线光电子能谱仪特点
高性能 X 射线源
X 射线单色器允许在50 µm 至 400 µm 的分析区域内以 5 µm 的步长进行选择选择 ，以寻求所需的信号最大化。
优异的电子光学系统
高效电子透镜、半球形分析仪和检测器可实现卓越的检测和快速数据采集。
样品视图
使用 K-Alpha XPS 系统的专利光学观察系统和 XPS SnapMap 聚焦样品，帮助您快速确定分析测试区域。
绝缘样品分析
获得专利的双束电子源将低能量离子束与低能量的电子（小于 1 eV）耦合，防止分析过程中的样品带电，从而在大多数情况下消除了荷电效应。
深度剖析
使用 EX06 离子源进行更深层表面的分析。自动源优化和气体处理功能确保卓越的性能和实验重现性。
数码控制
由 Avantage 数据系统指导的直观操作使 K-Alpha XPS 系统成为多用户、测试中心和注重高效操作和高测试量的 XPS 专家的理想选择。
可选样品台
提供可选的各种特殊样品台，用于变角 XPS、样品加偏压测试或从手套箱惰性转移样品。
性能数据
| 分析仪类型 |
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| X 射线源类型 |
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| X 射线光斑尺寸 |
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| 深度剖析 |
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| 样品最大面积 |
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| 样品最大厚度 |
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| 真空系统 |
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| 可选配件 |
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表面分析学习中心
材料表面或层间界面的化学作用决定了材料的行为。我们的表面分析参考资料和资源可以帮助您设计所需的特性或在材料性能不如预期时加深对材料的了解。
原子元素的 X 射线光电子能谱
Thermo Scientific Avantage Data System for XPS 的一个关键特色是一个庞大的知识库，其中包含有关 XPS分析及其表征的元素的信息。
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